Caracterização elétrica de dispositivos e circuitos integrados
AUTOR(ES)
Hélder Henrique Guimarães
DATA DE PUBLICAÇÃO
2008
RESUMO
Neste trabalho foi desenvolvido e implementado um modelo de estrutura para caracterização e teste de dispositivos eletrônicos e circuitos integrados. Este modelo é capaz de validar uma grande variedade de dispositivos e circuitos integrados, inclusive protótipos de SoC (System on Chip). O modelo inclui bancadas de testes, instrumentação, procedimentos e automação de processos com a criação de programas usando LabVIEW R e GPIB.
ASSUNTO(S)
labview nanoeletrônica engenharia eletrica gpib medidas
Documentos Relacionados
- Sistema de fotorrepetição para fabricação de circuitos integrados
- Planejamento estrutural e simulação de partes de controle de circuitos integrados
- Editor grafico interativo para projetos de circuitos integrados
- Avaliação de desempenho de partes de controle de circuitos integrados
- Um sistema de modelagem automatica de circuitos integrados digitais MOS