Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos

AUTOR(ES)

Santos, C., Suzuki, P. A., Strecker, K., Kycia, S., Silva, C. R. M.

FONTE

Cerâmica

DATA DE PUBLICAÇÃO

2005-12

RESUMO

A técnica de difração de raios X de alta resolução foi utilizada para a caracterização estrutural da solução sólida, formada a partir de nitreto de silício (Si3N4), denominada alfa-SiAlON. Cerâmicas de alfa-SiAlON foram produzidas utilizando aditivos à base de AlN-Y2O3 ou AlN-CRE2O3. O óxido misto, CRE2O3, é uma solução sólida formada por Y2O3 e óxidos de terras raras. Os resultados mostraram a formação de solução sólida nos materiais sinterizados e não foi detectada segregação de óxidos utilizados como aditivos de sinterização. A similaridade das propriedades estruturais, morfológicas e mecânicas entre SiAlONs produzidos com aditivos contendo Y2O3 ou CRE2O3 indica a possibilidade de substituição do Y2O3 por CRE2O3 na produção de alfa-SiAlONs por um custo mais baixo.

ASSUNTO(S)

sialon óxido misto difração de raios x de alta resolução luz síncrotron refinamento de estrutura método de rietveld

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