On-silicon testbench for validation of soft logic cell libraries / Circuito de teste em silício para validação de bibliotecas de células lógicas geradas por software

AUTOR(ES)

Bavaresco, Simone

DATA DE PUBLICAÇÃO

2008

RESUMO

Projeto baseado em células-padrão é a abordagem mais aplicada no mercado de ASIC atualmente. Essa abordagem de projeto consiste no reuso de bibliotecas de células pré-customizadas para gerar sistemas digitais mais complexos. Portanto a eficiência de um projeto ASIC está relacionado com a biblioteca em uso. A utilização de portas lógicas CMOS geradas automaticamente no fluxo de projeto de circuito integrado baseado em células-padrão representa uma perspectiva atraente para melhorar a qualidade de projeto ASIC. Essas células geradas por software são os elementos-chave dessa nova abordagem de mapeamento tecnológico livre de biblioteca, já proposto na literatura e agora adotado pela indústria. O mapeamento tecnológico livre de biblioteca, baseado na criação de células sob demanda, por software, gera flexibilidade aos projetistas de circuitos integrados, fornecendo ajuste otimizado em aplicações específicas. Contudo, tal abordagem representa um fluxo de projeto de circuito integrado baseado em células lógicas criadas sob demanda por software, as quais não são previamente validadas em silício até que o ASIC alvo seja prototipado. Neste trabalho, um circuito de teste específico é proposto para validar a funcionalidade completa de um conjunto de células lógicas, bem como verificar comportamentos de atraso e consumo, os quais podem ser correlacionados com as estimativas de atraso e consumo do projeto, a fim de validar os dados das células gerados pela caracterização elétrica. A arquitetura proposta para o circuito de teste é composta por blocos combinacionais que garantem a completa verificação lógica de cada célula da biblioteca. A estrutura básica do circuito de teste é ligeiramente modificada para permitir diferentes modos de operação que permitem avaliação de diferentes dados utilizando simulações elétricas SPICE. Visto que o circuito de teste gera pequeno acréscimo de silício ao projeto final, ele pode ser implementado junto com o ASIC alvo, atuando como um ‘circuito de certificação de biblioteca’.

ASSUNTO(S)

microeletronica integrated circuit asic testes : circuitos integrados digital design standard cell library-free technology mapping soft library test circuit

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