Propriedades estruturais de L-arginina.HCl.H2O pura e dopada com Fe usando difraÃÃo de raios-X de N-feixes. / Structural properties of pure and Fe-doped L-arginine.HCl.H2O using diffraction of N-beam X-ray.

AUTOR(ES)

Juliana Marcela AbraÃo de Almeida

FONTE

IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia

DATA DE PUBLICAÇÃO

21/09/2007

RESUMO

Neste trabalho usamos a varredura Renninger (VR) da difraÃÃo mÃltipla de raios-X (DMRX) na determinaÃÃo dos coeficientes piezelÃtricos do cristal de L-arginina.HCl.H2O dopado com :Fe (L-AHCl. H2O:Fe) atravÃs das distorÃÃes produzidas na cÃlula unitÃria do cristal sob a aÃÃo de um campo elÃtrico. A vantagem desta tÃcnica à a possibilidade de obter mais de um coeficiente piezelÃtrico a partir de um Ãnico experimento. Foi verificado um decrÃscimo nos coeficientes no cristal dopado com Fe quando comparado com os coeficientes do cristal puro , devido uma mudanÃa no arranjo dos domÃnios ferroelÃtricos, causada pela presenÃa dos Ãons de Fe3+ na estrutura, que dificulta o alinhamento com o campo elÃtrico. Utilizando a tÃcnica de DMRX foi tambÃm possÃvel obter topografias em um cristal de L-AHCl.H2O pura crescida por evaporaÃÃo lenta. As imagens topogrÃficas foram extraÃdas atravÃs de diferentes posiÃÃes sobre uma reflexÃo primÃria e um pico secundÃrio atravÃs da curva de rocking e VR, respectivamente. Nessas imagens foi possÃvel observar diferentes contrastes tanto para exposiÃÃes na primÃria, quanto para secundÃria. A vantagem em utilizar a topografia em condiÃÃo de difraÃÃo mÃltipla com relaÃÃo Ãs tÃcnicas convencionais està relacionada à escolha de qualquer plano secundÃrio dentro do cristal para o estudo de defeitos cristalinos. Uma outra contribuiÃÃo deste trabalho foi o estudo de picos secundÃrios com maior sensibilidade ao deslocamento do pico (1-74) em funÃÃo do campo elÃtrico evidenciado pela presenÃa de um Ãngulo , observado na VR com primÃria (500) para o cristal de L-AHCl.H2O pura.

ASSUNTO(S)

fisica da materia condensada difraÃÃo mÃltipla de raios-x l-arginina.hcl.h2o coeficientes piezelÃtrico topografia de raios-x x-ray multiple diffraction l-arginine.hcl.h2o piezoelectric coefficient topography

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