Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits / Sistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos

AUTOR(ES)
FONTE

IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia

DATA DE PUBLICAÇÃO

2010

RESUMO

Os circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.

ASSUNTO(S)

microeletronica design of robust or fault-tolerant systems qdi asynchronous circuits microprocessadores transient faults tolerancia : falhas soft errors evaluation of transient-fault effects

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