Circuitos Integrados Industria
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1. A VISÃO RELACIONAL DE POLÍTICAS DE CIÊNCIA E TECNOLOGIA: O CASO DO PROGRAMA CI BRASIL
RESUMO A literatura sobre cooperação interorganizacional tem trazido ao debate acadêmico, especialmente das últimas duas décadas, uma reflexão sobre os resultados da atuação conjunta de diversos atores para alcançar fins comuns. Essa forma de pensar os meios para alcançar os fins pretendidos foi denominada por Dyer e Singh (1998) como "visão relac
REAd. Rev. eletrôn. adm. (Porto Alegre). Publicado em: 2016-04
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2. Impacto de técnicas de redução do consumo de energia no projeto de SoCs Multimedia / The impact of design techniques in the reduction of power consumption of SoCs Multimedia
A indústria de semicondutores sempre enfrentou fortes demandas em resolver problema de dissipação de calor e reduzir o consumo de energia em dispositivos. Esta tendência tem sido intensificada nos últimos anos com o movimento de sustentabilidade ambiental. A concepção correta de um sistema eletrônico de baixo consumo de energia é um problema de vár
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 16/06/2011
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3. PLATAFORMA PARA AVALIAÇÃO DE DESEMPENHO DE REDE-EM-CHIP EM FPGA
Com a evolução dos processos de fabricação de circuitos, tem sido possível a integração de sistemas completos em um único chip, os quais são construídos utilizando-se blocos de silício reutilizáveis (núcleos). Com as novas tecnologias de integração, será possível construir sistema com várias dezenas a centenas de núcleos em um mesmo chip.
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 18/11/2010
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4. Verificação de equivalência combinacional utilizando hiper-resolução binária
A capacidade de integrar cada vez mais componentes dentro de circuitos integrados tem dobrado a aproximadamente cada 18 meses desde meados de 1960, com previsões de continuar neste ritmo até 2050. Esta crescente complexidade de dispositivos computacionais leva a indústria de circuitos integrados a investir mais de 50% do tempo de desenvolvimento na etapa
Publicado em: 2010
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5. Estudo e aplicação de um fluxo de análise de trilha de alimentação / Study and application of a rail analysis flow
Tecnologias sub-100nm têm visto um incremento em questões relativas à confiabilidade e integridade de sinais. O aumento da densidade dos transistores, o aumento da freqüência de operação, a redução das dimensões do chip têm contribuído para o aumento na probabilidade de ocorrência de quedas de tensão e de eletromigração. Quedas de tensão afe
Publicado em: 2010
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6. Análise da performance do algoritmo d / Performance analysis of D-algorithm
A geração de testes para circuitos combinacionais com fan-outs recovergentes é um problema NP-completo. Com o rápido crescimento da complexidade dos circuitos fabricados, a geração de testes passou a ser um sério problema para a indústria de circuitos integrados. Muitos algoritmos de ATPG (Automatic Test Pattern Generation) baseados no algoritmo D, u
Publicado em: 2010
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7. Algorithms for wire length improvement of VLSI circuits with concern to critical paths / Algorítmos para redução do comprimento dos fios de circuitos VLSI considerando caminhos críticos
Esta tese objetiva propor algorítmos para a redução do tamanho dos fios em circuitos VLSI considerando elementos críticos dos circuitos. O problema é abordado em duas perspectivas diferentes: posicionamento e roteamento. Na abordagem de posicionamento, a tese explora métodos para realizar posicionamento de um tipo particular de circuito VLSI, que são
Publicado em: 2009
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8. On-silicon testbench for validation of soft logic cell libraries / Circuito de teste em silício para validação de bibliotecas de células lógicas geradas por software
Projeto baseado em células-padrão é a abordagem mais aplicada no mercado de ASIC atualmente. Essa abordagem de projeto consiste no reuso de bibliotecas de células pré-customizadas para gerar sistemas digitais mais complexos. Portanto a eficiência de um projeto ASIC está relacionado com a biblioteca em uso. A utilização de portas lógicas CMOS gerada
Publicado em: 2008
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9. ANALYSIS AND IMPLEMENTATION OF AN INTEGRATED AUXILIARY COMMUTATION CIRCUIT APPLIED TO AN UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY / ANÁLISE E IMPLEMENTAÇÃO DE UM CIRCUITO DE AUXÍLIO À COMUTAÇÃO INTEGRADO APLICADO A UMA FONTE ININTERRUPTA DE ENERGIA
Este trabalho propõe um circuito de auxílio à comutação, aplicado a uma fonte ininterrupta de energia de dupla conversão, operando com inversor PWM ponte completa modulado em três níveis de tensão. Para obtenção desse circuito, este trabalho utiliza o conceito de integração de circuitos de auxílio à comutação: O estudo do caso ZVT. O conceit
Publicado em: 2008
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10. Elementos para a construção de uma cadeia de verificação para o projeto TopCased
Analisando a história dos sistemas embarcados, podemos dividi-la em dois momentos. Em um primeiro momento, a origem dos problemas destes sistemas provinha, na grande maioria dos casos, da parte física chamada hardware. A partir dos anos 60, graças à chegada dos circuitos integrados, desenvolvidos para o Programa Espacial Americano, a parte física dos si
Publicado em: 2008
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11. Nucleação e crescimento de grãos em filmes de Al nanoestruturados
A eletromigração é um dos principais problemas que limitam a vida útil dos dispositivos microeletrônicos. Normalmente o que se utiliza na indústria são interconexões feitas de filmes finos de Al e/ou Cu com estrutura colunar. Em muitos casos o efeito da eletromigração leva ao rompimento destas interconexões metálicas. Uma alternativa para reduzir
Publicado em: 2008
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12. Interconnections influince upon nanoelectronic integrated circuits performance based on single-electron transistor / Influência das interconexões sobre o desempenho de circuitos integrados nanoeletrônicos baseados em transistores mono-elétron
As tecnologias básicas adotadas atualmente pela indústria semicondutora para a fabricação de memórias e processadores podem alcançar certos limites que fazem com que novas tecnologias tenham que ser estudadas e desenvolvidas. Os transistores mono-elétron, como outros dispositivos em escala nanométrica, parecem ser uma opção próspera para implement
Publicado em: 2007