Eletromigration
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1. Estudo e aplicação de um fluxo de análise de trilha de alimentação / Study and application of a rail analysis flow
Tecnologias sub-100nm têm visto um incremento em questões relativas à confiabilidade e integridade de sinais. O aumento da densidade dos transistores, o aumento da freqüência de operação, a redução das dimensões do chip têm contribuído para o aumento na probabilidade de ocorrência de quedas de tensão e de eletromigração. Quedas de tensão afe
Publicado em: 2010