Juncoes De Metais Semicondutores
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1. Estudo de propriedades eletricas no sistema tensionado InAs/InP
Este trabalho teve como objetivo implementar novas técnicas de microscopia por varredura com ponta de prova no equipamento existente no LPD/DFA/UNICAMP e aplicá-las ao estudo de propriedades elétricas de nanoestruturas semicondutoras. Em particular, foi necessário projetar, construir e implementar no microscópio, um circuito eletrônico de medição de
Publicado em: 2002