Projeto Para Testabilidade
Mostrando 1-8 de 8 artigos, teses e dissertações.
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1. Validação de protótipo e análise de falhas no teste com feixe de elétrons : um estudo visando a sua automação
O trabalho aqui apresentado descreve algumas pesquisas em teste de circuitos integrados. Estas pesquisas consistem, por um lado, na análise de falhas e por outro, na validação de protótipos, ambas fazendo uso de técnicas de teste com feixe de elétrons. A primeira parte deste trabalho apresenta uma revisão dos princípios do teste com feixe de elétron
Publicado em: 2010
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2. Aumento da testabilidade do hardware com auxilio de técnicas de teste de software / Hardware testyability increase with software testing techniques
O projeto, seja ele de software ou hardware, envolve uma série de atividades que, apesar das técnicas, ferramentas e métodos empregados, não estão livres de erros que podem levar ao mau funcionamento do produto final. Estes erros podem ocorrer durante a especificação do projeto, como também em estágios finais do desenvolvimento ou no processo de man
Publicado em: 2008
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3. Projeto de estruturas de armazenamento digital em um SoC para controle de irrigação
Neste trabalho foram projetados e implementados uma memória ROM de 256 bits, uma memória RAM de 128 bits e um banco com 16 registradores de 16 bits, em tecnologia CMOS 0.35 m, como veículos de validação preliminar de uma arquitetura contendo 2kB de ROM e 8 kB de RAM. Tais estruturas integram um Sistema em Chip (SoC) para comunicação sem fio em um sist
Publicado em: 2008
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4. Implicações do estilo de descrição de códigos VHDL na testabilidade
Devido ao aumento da complexidade dos circuitos integrados atuais, os projetos são desenvolvidos utilizando linguagens de descrição de hardware (por exemplo, VHDL) e os circuitos são gerados automaticamente a partir das descrições em alto nível de abstração. Embora o projeto do circuito seja facilitado pela utilização de ferramentas de auxílio ao
Publicado em: 2007
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5. Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits
Com a crescente demanda por produtos eletrônicos de consumo de alta complexidade, o mercado necessita de um rápido ciclo de desenvolvimento de produto com baixo custo. O projeto de equipamentos eletrônicos baseado no uso de núcleos de propriedade intelectual ("IP cores") proporciona flexibilidade e velocidade de desenvolvimento dos chamados "sistemas num
Publicado em: 2007
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6. Optimization algorithms of functional units test plans for BIST circuits. / Algoritmos de otimização de planos de teste de unidades funcionais para circuitos BIST.
Grandes saltos tecnológicos viabilizaram a integração de circuitos digitais de alta complexidade, com centenas de pinos e milhões de transistores. Sistematicamente, dispositivos eletromecânicos estão sendo substituídos por Circuitos Integrados (CIs) que contêm sistemas inteiros, ampliando o uso generalizada da eletrônica. Com o aumento da complexida
Publicado em: 2001
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7. Somador "Carry Lookahead" para VLSI : definição e especificação de teste de um gerador funcional
O trabalho apresenta um procedimento de teste, para um somador tipo "carry-lookahead ;. A estrutura é adequada para implementações em alta escala de integração, cosistindo em um conjunto de processadores independentes, interligados de maneira regular. O procedimento de teste é executado em duas etapas: a primeira a nível de estrutura e a segunda
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 01/12/1990
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8. Desenvolvimento de um circuito integrado para testabilidade de placas
Este trabalho de Mestrado em Engenharia Elétrica, trata do desenvolvimento de um circuito integrado modular para ser aplicado no projeto para testabilidade de placas eletrônicas digitais. E um CI programável que visa facilitar a implementação de Scan-Test e Self-Test nas placas. Os capítulos 1, 2 e 3 servem de subsídio para o trabalho, conceituando o
Publicado em: 1990