Reliability Of Digital Circuits
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1. Detecção de defeitos do tipo Resistive-Open em SRAM com o uso de lógica comparadora de vizinhança
The world we live today is very dependent of the technology advance and the Systemson- Chip (SoC) are one of the most important actors of this advance. As a consequence, the Moore s law has been outperformed due to this strong demand on the SoCs for growth, so that new silicon technologies has emerged along with new fault models that decreased the reliabilit
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 30/03/2012
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2. Modeling and simulation of device variability and reliability at the electrical level
In nanometer scale complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) parameter variations pose a challenge for the design of high yield integrated circuits. This work presents models that were developed to represent physical variations affecting Deep- Submicron (DSM) transistors and computationally efficient methodologies for simulating these devices using Elec
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 2011
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3. Estudo sobre determinação de parâmetros elétricos de geradores síncronos de polos salientes / Study about determination of electric parameters of synchronous generators of salient poles
Synchronous generators are responsible for almost all electric energy produced in the world. Due to its natural application in electric energy generation of low speed type, salient poles synchronous generators are widely used in hidroelectric energy generation, in energy convertion in ships, emergency engine/generator groups or in local generation not linked
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 12/08/2010
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4. Exploiting EDA tools for the analysis and protection of integrated circuits against radiation-induced single event transients / Explorando ferramentas de EDA para a análise e proteção de circuitos integrados contra eventos singulares transitórios induzidos por radiação
Este trabalho apresenta um estudo da análise e proteção de circuitos integrados contra eventos singulares transitórios usando ferramentas de EDA. Eventos singulares transitórios (SETs) surgem a partir da colisão de partículas de alta energia em circuitos combinacionais podendo levar o sistema a resultados indesejados. A confiabilidade de circuitos dig
Publicado em: 2010