Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor...
Ver documentoThis work is part of the project for development of the first metrology reference for frequency standard around 532 nm in Brazil for the practical realization of the definition of the meter. The study was conducted at the Laboratory Interferometry (Laint) Inmetro, through an agre...
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